冷熱沖擊設(shè)備，提供高效可靠的溫度循環(huán)測(cè)試

產(chǎn)品詳情

冷熱沖擊設(shè)備，是一種用于模擬高低溫瞬時(shí)變化的環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備。它通過將測(cè)試樣品在高溫區(qū)和低溫區(qū)之間進(jìn)行快速轉(zhuǎn)換，在短時(shí)間內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品因溫度劇烈變化而引起的物理和化學(xué)性能變化，為產(chǎn)品的改進(jìn)和質(zhì)量控制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品用途

該設(shè)備主要用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷和潛在故障，如材料開裂、性能漂移、接觸不良、焊點(diǎn)脫落等。其核心目的是提升產(chǎn)品的可靠性、耐久性和環(huán)境適應(yīng)性，是產(chǎn)品質(zhì)量保證體系中一環(huán)。

冷熱沖擊設(shè)備，提供高效可靠的溫度循環(huán)測(cè)試

工作原理

設(shè)備主要采用兩箱式或三箱式結(jié)構(gòu)。以常見的三箱式為例，箱體分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)。測(cè)試開始時(shí)，待測(cè)樣品置于測(cè)試區(qū)。通過籃架或吊籠的機(jī)械運(yùn)動(dòng)，在預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)，將樣品快速移入高溫區(qū)進(jìn)行高溫儲(chǔ)存，再迅速移入低溫區(qū)進(jìn)行低溫儲(chǔ)存，如此構(gòu)成一個(gè)完整的溫度沖擊循環(huán)。這種設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了溫度的快速變化，并有效隔離了高低溫之間的相互干擾。

主要功能及特點(diǎn)

• 高效可靠： 采用高效的加熱器和制冷系統(tǒng)，確保溫區(qū)快速穩(wěn)定；轉(zhuǎn)換時(shí)間短，能迅速達(dá)到測(cè)試要求的溫度沖擊效果。

• 精準(zhǔn)控溫： 采用微電腦控制器，實(shí)現(xiàn)高精度溫度控制和精確的計(jì)時(shí)功能。

• 安全穩(wěn)定： 具備多重安全保護(hù)功能，如超溫保護(hù)、風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)、漏電保護(hù)等，確保設(shè)備和操作人員安全。

• 人性化操作： 大尺寸觸摸屏，界面友好，程序編輯簡(jiǎn)單，實(shí)時(shí)顯示運(yùn)行狀態(tài)和曲線。

• 堅(jiān)固耐用： 內(nèi)膽采用高品質(zhì)不銹鋼，外殼為冷軋鋼板噴塑，結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，耐腐蝕性強(qiáng)。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍： 高溫區(qū)：+60℃ ~ +200℃；低溫區(qū)：-10℃ ~ -65℃ 或更低

• 沖擊恢復(fù)時(shí)間： ＜5分鐘（從高溫到低溫或反之，恢復(fù)至設(shè)定溫度）

• 樣品籃轉(zhuǎn)換時(shí)間： ＜10秒（可在10~20秒內(nèi)設(shè)定）

• 預(yù)熱/預(yù)冷時(shí)間： 高溫槽約30分鐘，低溫槽約60分鐘（從室溫限溫度）

• 內(nèi)箱尺寸： 可根據(jù)需求定制（如 40×35×35cm）

應(yīng)用場(chǎng)景與領(lǐng)域

• 應(yīng)用場(chǎng)景： 電子元器件的來料檢驗(yàn)、生產(chǎn)線上的產(chǎn)品篩選、研發(fā)階段的型式試驗(yàn)、失效分析等。

• 應(yīng)用領(lǐng)域：

• 航空航天： 機(jī)載電子設(shè)備、衛(wèi)星部件等。

• 汽車電子： 發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元(ECU)、傳感器、鋰電池等。

• 消費(fèi)電子： 手機(jī)、筆記本電腦、芯片、集成電路等。

• 光電通信： 光模塊、光纖器件等。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

該設(shè)備的設(shè)計(jì)和測(cè)試嚴(yán)格遵循多項(xiàng)國際與國家標(biāo)準(zhǔn)，主要包括：

• GB/T 2423.22（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化）

• IEC 60068-2-14

• GJB 150.5A（裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)）

• MIL-STD-810H（Method 503.6）