冷熱沖擊箱，廣泛應(yīng)用于電子元器件質(zhì)量檢測

產(chǎn)品詳解

冷熱沖擊箱，又名溫度沖擊試驗(yàn)箱或熱冷沖擊試驗(yàn)箱，是一種用于測試產(chǎn)品在瞬間經(jīng)受高溫和極低溫連續(xù)變化環(huán)境下的耐受能力，從而評估其可靠性和穩(wěn)定性的關(guān)鍵環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。它廣泛應(yīng)用于電子元器件、汽車、航空航天等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測與可靠性篩選。

一、產(chǎn)品詳情與用途

該設(shè)備通過模擬急劇的溫度變化，在短時間內(nèi)將測試樣品暴露于高溫和低溫的交替環(huán)境中。其主要目的在于：

• 可靠性篩選：快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品因熱脹冷縮引起的材料缺陷、焊接不良、性能失效等潛在問題。

• 品質(zhì)驗(yàn)證：檢驗(yàn)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)完整性、電氣性能穩(wěn)定性以及對溫度的適應(yīng)能力，為產(chǎn)品改進(jìn)和質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持。

冷熱沖擊箱，廣泛應(yīng)用于電子元器件質(zhì)量檢測

二、工作原理

主流的冷熱沖擊箱采用三箱式（提籃式） 結(jié)構(gòu)，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)。

1. 測試樣品放置于測試區(qū)的提籃內(nèi)。

2. 當(dāng)進(jìn)行高溫沖擊時，提籃將樣品從測試區(qū)移入高溫區(qū)，在短時間內(nèi)使樣品達(dá)到預(yù)設(shè)高溫并保持。

3. 高溫測試結(jié)束后，提籃迅速將樣品移回測試區(qū)進(jìn)行短暫的溫度平衡。

4. 隨后，提籃再將樣品迅速移入低溫區(qū)，使其承受劇烈的低溫沖擊。

5. 如此循環(huán)，實(shí)現(xiàn)高、低溫的快速切換，構(gòu)成嚴(yán)酷的溫度沖擊測試。

三、主要功能及特點(diǎn)

• 快速溫變：能在極短時間內(nèi)（通常數(shù)秒內(nèi)）完成高低溫區(qū)域的轉(zhuǎn)換。

• 精準(zhǔn)控溫：采用高精度PID控制器，確保高溫區(qū)和低溫區(qū)的溫度控制精確、穩(wěn)定。

• 高效恢復(fù)：溫度沖擊后，能快速恢復(fù)到預(yù)設(shè)的穩(wěn)定溫度，為下一次沖擊做準(zhǔn)備。

• 智能安全：具備超溫保護(hù)、漏電保護(hù)、風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)等多重安全裝置。

• 人性化操作：大尺寸觸摸屏，可編程控制器，用戶可輕松設(shè)定復(fù)雜的溫度曲線和循環(huán)次數(shù)。

• 堅固耐用：內(nèi)膽通常采用高級不銹鋼，保溫層設(shè)計優(yōu)良，確保長期運(yùn)行的可靠性與節(jié)能性。

四、技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：高溫區(qū)：+60℃ ~ +200℃；低溫區(qū)：-10℃ ~ -65℃ 或更低

• 轉(zhuǎn)換時間：＜10秒（從高溫到低溫或反之，樣品實(shí)測）

• 溫度恢復(fù)時間：＜5分鐘（恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)）

• 預(yù)熱/預(yù)冷時間：約30分鐘（從常溫升至/降限溫度）

• 內(nèi)箱尺寸：可根據(jù)客戶需求定制（如 40×40×40cm, 50×50×50cm 等）

五、應(yīng)用場景與領(lǐng)域

• 電子元器件：IC、芯片、電路板、BGA、半導(dǎo)體、電阻電容等。

• 汽車電子：ECU、傳感器、連接器、車載顯示屏等在溫度下的可靠性驗(yàn)證。

• 航空航天：對安全性要求機(jī)載設(shè)備、導(dǎo)航系統(tǒng)的環(huán)境適應(yīng)性測試。

• 通信設(shè)備：手機(jī)、基站、光模塊等通訊產(chǎn)品在溫度驟變下的性能穩(wěn)定性。