
產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
產(chǎn)品型號(hào):TSD-480F-3P
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2025-11-29
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三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是專為測(cè)試產(chǎn)品在瞬間經(jīng)受高溫和極低溫環(huán)境變化下的耐受能力而設(shè)計(jì)的可靠性測(cè)試設(shè)備。它通過將測(cè)試樣品在高溫箱、低溫箱和測(cè)試箱之間快速轉(zhuǎn)換,模擬嚴(yán)苛的溫度沖擊環(huán)境,廣泛應(yīng)用于電子元器件,特別是PCB電路板的品質(zhì)驗(yàn)證。
設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)(樣品區(qū))。測(cè)試開始時(shí),待測(cè)PCB板位于測(cè)試區(qū)。根據(jù)預(yù)設(shè)程序,吊籃會(huì)快速將樣品移動(dòng)至高溫區(qū)進(jìn)行高溫暴露,持續(xù)一段時(shí)間后,再迅速返回測(cè)試區(qū)或直接切換至低溫區(qū)進(jìn)行低溫暴露,如此循環(huán)。這種結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了溫度的急劇變化,同時(shí)避免了高低溫區(qū)的直接相互干擾,溫度恢復(fù)快,沖擊效率高。




高效節(jié)能:三箱隔離設(shè)計(jì),避免了冷熱量的直接對(duì)沖,相比兩箱式更節(jié)能,且溫度恢復(fù)時(shí)間極短。
測(cè)試無損:樣品在測(cè)試區(qū)內(nèi)靜止不動(dòng),通過氣流切換或吊籃移動(dòng)進(jìn)行溫沖,避免了因機(jī)械運(yùn)動(dòng)對(duì)精密PCB板及焊點(diǎn)造成額外應(yīng)力損傷。
溫變迅捷:可在10秒內(nèi)(依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)不同)完成高溫到低溫的轉(zhuǎn)換,提供劇烈的溫度沖擊效果。
精準(zhǔn)控制:采用PLC觸摸屏控制系統(tǒng),精度高,運(yùn)行穩(wěn)定,可精確控制暴露時(shí)間和溫度斜率。
長(zhǎng)久耐用:核心壓縮機(jī)及關(guān)鍵電器元件采用國(guó)際品牌,內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼,確保設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。
溫度范圍:高溫區(qū):+60℃ ~ +200℃;低溫區(qū):-10℃ ~ -65℃(或按需定制)
測(cè)試區(qū)溫度:高溫:+60℃ ~ +150℃;低溫:-10℃ ~ -55℃
轉(zhuǎn)換時(shí)間:<10秒(高溫→低溫,或低溫→高溫,依據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
溫度偏差:≤±2.0℃
預(yù)熱/預(yù)冷時(shí)間:高溫箱從常溫至+150℃約30分鐘;低溫箱從常溫至-55℃約60分鐘



本設(shè)備嚴(yán)格遵循多項(xiàng)國(guó)際與國(guó)家測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),主要包括:
GB/T 2423.22
IEC 60068-2-14
MIL-STD-883
MIL-STD-202
JESD22-A104
EIA-364-32
以及各大汽車、通訊企業(yè)的內(nèi)部測(cè)試規(guī)范。
核心應(yīng)用:PCB電路板、PCBA組裝板、集成電路(IC)、芯片、半導(dǎo)體元件、光電模塊等的可靠性測(cè)試。
行業(yè)領(lǐng)域:航空航天、汽車電子(車規(guī)級(jí)芯片與控制器)、通信設(shè)備、消費(fèi)類電子產(chǎn)品(手機(jī)、電腦)的研發(fā)與質(zhì)量管控環(huán)節(jié)。
測(cè)試目的:用于評(píng)估材料、焊點(diǎn)、鍍通孔(PTH)
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