冷熱沖擊試驗箱 用于電子元件質量檢測

產(chǎn)品概述
冷熱沖擊試驗箱，又名溫度沖擊試驗箱或熱沖擊試驗箱，是用于測試電子元器件、組件及整機在瞬間經(jīng)受高溫度和極低溫轉換的環(huán)境下的耐受能力。它通過模擬嚴苛的溫度驟變條件，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，是提升電子元件質量與可靠性的關鍵檢測設備。

一、 設備亮點與優(yōu)勢

• 高效節(jié)能： 采用高效的制冷機組和加熱器，以及優(yōu)化的氣流設計，在保證性能的同時降低能耗。

• 穩(wěn)定可靠： 關鍵元器件（如壓縮機、控制器）均采用國際品牌，確保設備長期穩(wěn)定運行，故障率低。

• 安全智能： 具備多重安全保護功能（超溫保護、過載保護、故障報警等），確保操作人員與測試樣品的安全。

• 人性化設計： 大型觸摸屏人機界面，操作直觀簡便；具備USB數(shù)據(jù)導出功能，便于測試數(shù)據(jù)記錄與分析。

冷熱沖擊試驗箱 用于電子元件質量檢測

二、 工作原理

該設備主要采用三箱式（預冷區(qū)、預熱區(qū)、測試區(qū)） 結構。測試樣品放置于測試區(qū)（吊籃）中。工作時，通過驅動機構，將測試區(qū)在高溫箱和低溫箱之間進行快速切換，使樣品在極短時間內(nèi)暴露于截然不同的溫度環(huán)境中，實現(xiàn)劇烈的溫度沖擊效果。

三、 技術參數(shù)（典型值）

• 溫度范圍： 高溫區(qū)：+60℃ ~ +150℃；低溫區(qū)：-10℃ ~ -55℃

• 轉換時間： < 10秒（從高溫到低溫或反之，樣品實測）

• 溫度恢復時間： < 5分鐘（恢復至設定溫度）

• 預熱區(qū)升溫速率： 約3~5℃/分鐘

• 預冷區(qū)降溫速率： 約0.7~1.2℃/分鐘

• 內(nèi)箱尺寸： 可根據(jù)需求定制（如 40cm x 40cm x 40cm）

四、 滿足標準

本設備嚴格遵循并滿足多項國際及國家標準，包括但不限于：

• IEC 60068-2-14

• MIL-STD-883 （美軍標）

• MIL-STD-202 （美軍標）

• JESD22-A104 （JEDEC標準）

• GB/T 2423.22

五、 主要用途與應用領域

• 主要用途： 用于檢測電子元件（如芯片、電阻、電容、PCB板、IC、連接器等）在溫度劇烈變化下的性能穩(wěn)定性、結構缺陷、材料不匹配等。

• 應用領域：

• 半導體行業(yè)： 芯片封裝測試。

• 汽車電子： 發(fā)動機控制器、傳感器等關鍵部件。

• 航空航天： 機載電子設備的可靠性篩選。

• 通信設備： 5G模塊、基站元器件。

• 消費電子： 手機、筆記本電腦核心部件。

六、 注意事項

1. 樣品放置： 測試樣品應合理擺放，確保測試區(qū)內(nèi)空氣流通，避免遮擋風道。

2. 易燃易爆品： 嚴禁將易燃、易爆及易揮發(fā)性物品放入箱內(nèi)測試。

3. 定期檢查： 定期檢查設備電源、壓縮機和傳動機構，確保運行正常。

4. 安全操作： 測試過程中，除非必要，請勿打開箱門，以防燙傷或凍傷，并避免溫度波動影響測試結果。