三槽式冷熱沖擊試驗箱

產(chǎn)品概述
冷熱沖擊試驗箱是一種用于測試產(chǎn)品在瞬間經(jīng)受高低溫變化環(huán)境下的耐受性能的精密設(shè)備。它通過將測試樣品在高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)（蓄能區(qū)）之間快速轉(zhuǎn)換，來模擬嚴酷的溫度沖擊環(huán)境，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域的產(chǎn)品可靠性驗證。

主要用途
用于評估產(chǎn)品（如IC、半導(dǎo)體、PCB、電子元器件、金屬、化學(xué)材料等）在溫度急劇變化時的物理和化學(xué)性能變化，以及早期故障篩選，有效發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計缺陷和工藝瑕疵。

基本結(jié)構(gòu)
設(shè)備主要由以下部分構(gòu)成：

1. 箱體結(jié)構(gòu)：分為三個獨立槽體——高溫蓄熱槽、低溫蓄冷槽和位于中間的測試區(qū)。

2. 提籃系統(tǒng)：承載測試樣品的吊籃，由伺服電機驅(qū)動，可在高、低溫和測試區(qū)之間快速、精準移動。

3. 制冷系統(tǒng)：位于低溫槽，為核心部件，提供持續(xù)的低溫環(huán)境。

4. 加熱系統(tǒng)：位于高溫槽，通過大功率電熱器快速產(chǎn)生高溫。

5. 控制系統(tǒng)：智能PLC或觸摸屏控制器，用于設(shè)定程序、監(jiān)控狀態(tài)和記錄數(shù)據(jù)。

6. 風(fēng)道系統(tǒng)：確保各槽體內(nèi)溫度均勻性。

工作原理
其核心原理是“靜態(tài)"而非“動態(tài)"制冷/加熱。高溫槽和低溫槽預(yù)先加熱并穩(wěn)定在設(shè)定溫度（如+150℃、-65℃）。測試開始時，待測樣品位于測試區(qū)。試驗啟動后，提籃在數(shù)秒內(nèi)將樣品從測試區(qū)移入高溫槽，經(jīng)過一段預(yù)設(shè)的駐留時間后，再快速移回測試區(qū)，最后迅速移入低溫槽并駐留，以此構(gòu)成一個完整的溫度沖擊循環(huán)。測試區(qū)作為緩沖區(qū)，減少了高低溫能量的直接交換。

制冷系統(tǒng)
采用復(fù)疊式制冷系統(tǒng)，通常由高溫級和低溫級循環(huán)組成。使用環(huán)保制冷劑（如R404A/R23），通過壓縮機、冷凝器、蒸發(fā)器、膨脹閥等核心部件協(xié)同工作，確保低溫槽能快速降溫并長期穩(wěn)定在極低溫度（如-65℃甚至更低）。

加濕系統(tǒng)
請注意：標(biāo)準的三槽式冷熱沖擊試驗箱通常不具備加濕系統(tǒng)。其核心功能是測試溫度變化率，濕度控制會大大增加設(shè)備的復(fù)雜性和成本。如需進行溫濕度綜合沖擊測試，需選用特殊設(shè)計的型號。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：高溫槽 +60℃ ~ +200℃；低溫槽 -10℃ ~ -65℃ 或更低

• 沖擊溫度：-55℃ ~ +125℃（常用范圍）

• 轉(zhuǎn)換時間：＜10秒（樣品從高溫到低溫或反之的移動時間）

• 溫度恢復(fù)時間：＜5分鐘（在樣品進入槽體后，槽內(nèi)溫度恢復(fù)到設(shè)定沖擊溫度的時間）

• 預(yù)熱/預(yù)冷時間：約30分鐘（從常溫升至高溫/降至低溫）

• 內(nèi)箱尺寸：根據(jù)客戶需求定制（如 40×35×35cm）

滿足標(biāo)準
設(shè)備設(shè)計及測試過程符合多項國際與國家標(biāo)準，包括但不限于：

• GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》

• IEC 60068-2-14《環(huán)境試驗 第2-14部分：試驗N：溫度變化》

• MIL-STD-883J《微電子器件試驗方法標(biāo)準》

• GJB 150.5A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗》

• EIA-364-32《電連接器和插座的熱沖擊測試標(biāo)準》