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您的位置:首頁(yè) / 產(chǎn)品展示 / 高低溫試驗(yàn)箱 / 小型高低溫試驗(yàn)箱 / THB-225PF高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測(cè)設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào):THB-225PF
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2025-10-24
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高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測(cè)設(shè)備
產(chǎn)品概述
本設(shè)備是專為半導(dǎo)體芯片、集成電路(IC)及其他電子元器件的可靠性測(cè)試而設(shè)計(jì)的高精度溫濕度環(huán)境檢測(cè)設(shè)備。它能夠精確模擬產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、存儲(chǔ)及運(yùn)輸過程中可能經(jīng)歷的高低溫、濕熱交變等苛刻環(huán)境條件,是確保芯片質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵設(shè)備。
主要用途
可靠性測(cè)試:用于芯片的壽命加速測(cè)試、環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)和失效分析。
性能評(píng)估:檢驗(yàn)芯片在不同溫濕度條件下(如高溫高濕、低溫啟動(dòng))的電性能穩(wěn)定性。
質(zhì)量控制:在批量生產(chǎn)前后,對(duì)樣品進(jìn)行篩選,剔除有潛在缺陷的產(chǎn)品。
科研驗(yàn)證:為新材料、新封裝工藝的研發(fā)提供可靠的環(huán)境模擬數(shù)據(jù)支持。


高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測(cè)設(shè)備
技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:-70℃ ~ +180℃(可定制更寬范圍)
濕度范圍:20% ~ 98% R.H.
溫濕度偏差:±0.5℃ / ±2.5% R.H.
升降溫速率:1~5℃/分鐘(線性或非線性可編程,可定制更快速率)
內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼,確保潔凈耐腐蝕。
控制器:彩色觸摸屏,多段程序編輯,支持USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出。
基本結(jié)構(gòu)
設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)和智能控制系統(tǒng)構(gòu)成。
箱體:采用高強(qiáng)度庫(kù)板,內(nèi)部為鏡面不銹鋼,外部為優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑,中間填充環(huán)保保溫材料。
樣品架:專為芯片托盤或測(cè)試PCB板設(shè)計(jì),確保氣流均勻通過每個(gè)樣品。
工作原理
設(shè)備基于強(qiáng)制空氣對(duì)流原理工作。通過控制系統(tǒng)精確指令,制冷系統(tǒng)或加熱系統(tǒng)對(duì)循環(huán)空氣中的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié);同時(shí),加濕系統(tǒng)(加熱水產(chǎn)生蒸汽)或除濕系統(tǒng)(通過制冷蒸發(fā)器冷凝除濕)對(duì)濕度進(jìn)行精確控制。從而使試驗(yàn)箱內(nèi)的溫濕度嚴(yán)格按照預(yù)設(shè)的程序曲線運(yùn)行,模擬出所需的環(huán)境場(chǎng)景。
制冷系統(tǒng)
通常采用二元復(fù)疊式制冷技術(shù),由兩套獨(dú)立的制冷循環(huán)系統(tǒng)組成。高溫級(jí)系統(tǒng)對(duì)低溫級(jí)系統(tǒng)的冷凝器進(jìn)行冷卻,從而使得低溫級(jí)系統(tǒng)能夠獲得更低的蒸發(fā)溫度,確保設(shè)備能快速、穩(wěn)定地達(dá)到-40℃乃至-70℃以下的超低溫。



加濕系統(tǒng)
采用淺槽式或鍋爐式蒸汽加濕。該系統(tǒng)通過電加熱管對(duì)純凈水進(jìn)行加熱產(chǎn)生純凈蒸汽,再由循環(huán)風(fēng)將其均勻帶入箱內(nèi)。這種方式加濕響應(yīng)快、控制精度高,且對(duì)箱內(nèi)潔凈度影響小,非常適合半導(dǎo)體測(cè)試。
滿足標(biāo)準(zhǔn)
本設(shè)備的設(shè)計(jì)與性能嚴(yán)格符合或超越以下國(guó)內(nèi)外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 2423.1~4 (電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn))
IEC 60068-2-1, IEC 60068-2-2, IEC 60068-2-14, IEC 60068-2-30, IEC 60068-2-78
JESD22-A104 (溫度循環(huán))
JESD22-A101 (穩(wěn)態(tài)溫濕度偏壓)
MIL-STD-883 (微電子器件試驗(yàn)方法)
GJB 150A (裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法)
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