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產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
產(chǎn)品型號:TSD-150F-2P
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2025-10-21
訪 問 量:161
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半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱 芯片環(huán)境檢測儀器
產(chǎn)品詳情
半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱是一款為芯片、集成電路(IC)、半導(dǎo)體元器件等產(chǎn)品量身定制的高精密環(huán)境可靠性測試設(shè)備。它通過瞬間在高溫和極低溫兩種環(huán)境之間切換,模擬產(chǎn)品在運輸、存儲、啟動及運行過程中可能遭遇的溫度變化,從而快速暴露材料、封裝、焊接等環(huán)節(jié)的潛在缺陷,是確保半導(dǎo)體產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵儀器。
主要功能及特點
超快速溫度轉(zhuǎn)換率:能夠在數(shù)十秒內(nèi)完成高溫到低溫的極限轉(zhuǎn)換,提供劇烈的溫度沖擊。
高精度溫控:采用精密PID控制算法,確保槽體溫度穩(wěn)定均勻,為測試提供準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。
超寬溫區(qū)范圍:高溫槽可達+150°C至+200°C,低溫槽可達-65°C至-10°C,滿足最嚴(yán)苛的測試標(biāo)準(zhǔn)。
對芯片友好設(shè)計:內(nèi)部氣流經(jīng)過特殊優(yōu)化,避免強風(fēng)直接吹拂樣品;測試區(qū)通常采用不銹鋼材質(zhì),確保潔凈耐用。
人性化操作:配備大尺寸觸摸屏和可編程控制器,可預(yù)設(shè)復(fù)雜的多段測試曲線,自動完成循環(huán)測試。
多重安全保護:具備超溫保護、漏電保護、壓縮機過載保護、風(fēng)機過熱保護等,確保設(shè)備和操作人員安全。



半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱 芯片環(huán)境檢測儀器
工作原理
該設(shè)備通常采用“三箱式"或“吊籃式"結(jié)構(gòu)。測試樣品放置在移動吊籃或固定的測試區(qū)內(nèi)。工作時,設(shè)備將高溫槽和低溫槽預(yù)先加熱和制冷至設(shè)定值。當(dāng)測試開始時,樣品會在程序控制下,通過機械傳動在高溫槽和低溫槽之間快速移動,使其在極短時間內(nèi)暴露于兩種溫度下,實現(xiàn)冷熱沖擊的測試目的。
技術(shù)參數(shù)
| 項目 | 參數(shù)范圍 |
|---|---|
| 溫度范圍 | 高溫區(qū):+60°C ~ +200°C; 低溫區(qū):-65°C ~ -10°C |
| 溫度波動度 | ≤±0.5°C |
| 溫度均勻度 | ≤±2.0°C |
| 轉(zhuǎn)換時間 | < 10秒(高溫到低溫,或低溫到高溫,取決于型號) |
| 溫度恢復(fù)時間 | 5分鐘內(nèi)恢復(fù)至設(shè)定溫度 |
| 內(nèi)箱材質(zhì) | 304不銹鋼,確保潔凈與耐腐蝕 |
| 控制系統(tǒng) | 彩色觸摸屏,可編程邏輯控制器(PLC) |



應(yīng)用場景與領(lǐng)域
應(yīng)用場景:
芯片封裝測試:檢驗不同封裝材料(如環(huán)氧樹脂、陶瓷)的熱膨脹系數(shù)匹配性。
焊接點可靠性測試:快速發(fā)現(xiàn)因溫度循環(huán)導(dǎo)致的焊點疲勞、開裂、虛焊等問題。
材料分層分析:暴露芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)、金線與焊盤之間的分層缺陷。
篩選早期失效品:通過嚴(yán)苛測試剔除有潛在缺陷的產(chǎn)品,提高出廠良品率。
應(yīng)用領(lǐng)域:
集成電路(IC)設(shè)計與制造
功率半導(dǎo)體器件(如IGBT、MOSFET)
微機電系統(tǒng)(MEMS)
汽車電子(尤其是發(fā)動機艙、自動駕駛系統(tǒng)相關(guān)芯片)
航空航天電子
5G通信芯片與模塊
技術(shù)特點
半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱的核心技術(shù)特點在于其 “快、準(zhǔn)、狠" 。“快" 體現(xiàn)在極速的溫度轉(zhuǎn)換能力,能最真實地模擬嚴(yán)酷環(huán)境;“準(zhǔn)" 體現(xiàn)在對溫度的控制,確保測試條件的重復(fù)性與可比性;“狠" 體現(xiàn)在其超寬的溫區(qū)和劇烈的變化幅度,能有效激發(fā)并暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)。它是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中“質(zhì)量守門員",為芯片的長期穩(wěn)定性和可靠性提供了至關(guān)重要的數(shù)據(jù)支持和質(zhì)量保障。

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