冷熱沖擊試驗(yàn)箱，自定義復(fù)雜測(cè)試流程

一、 產(chǎn)品詳情與用途

冷熱沖擊試驗(yàn)箱，又名溫度沖擊試驗(yàn)箱或熱沖擊試驗(yàn)箱，是一種用于模擬和測(cè)試產(chǎn)品在快速變化的溫度環(huán)境下的耐受性能的精密環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。其主要目的是在最短時(shí)間內(nèi)，檢驗(yàn)試驗(yàn)樣品因熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷，如材料開裂、性能失效、焊接點(diǎn)斷裂等，從而評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

二、 工作原理

該設(shè)備的核心工作原理是通過快速在高溫和低溫兩個(gè)環(huán)境之間切換，對(duì)測(cè)試樣品施加劇烈的溫度應(yīng)力。目前主流的設(shè)計(jì)分為兩箱式和三箱式。

• 兩箱式：分為高溫區(qū)和低溫區(qū)，通過吊籃或移動(dòng)托盤，將測(cè)試樣品在兩者之間快速轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)溫度沖擊。

• 三箱式：分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)。測(cè)試時(shí)，通過風(fēng)門切換，將高溫或低溫氣流快速引入測(cè)試區(qū)，對(duì)靜止的樣品進(jìn)行沖擊。這種方式避免了樣品的移動(dòng)，更適合精密或易損件。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱，自定義復(fù)雜測(cè)試流程

三、 主要功能及特點(diǎn)

• 自定義復(fù)雜測(cè)試流程：用戶可編程控制器，設(shè)定高低溫駐留時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、溫度轉(zhuǎn)換速率等參數(shù)，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的溫度沖擊剖面。

• 快速溫度轉(zhuǎn)換：能在極短時(shí)間內(nèi)（通常數(shù)十秒至幾分鐘）完成高低溫區(qū)域的轉(zhuǎn)換，確保沖擊效果。

• 高精度控溫：采用PID控制算法，確保高溫槽和低溫槽的溫度控制精確、穩(wěn)定。

• 安全保護(hù)系統(tǒng)：具備超溫保護(hù)、漏電保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、壓縮機(jī)延時(shí)保護(hù)等多重安全裝置。

• 人性化操作界面：大尺寸觸摸屏，中英文菜單，實(shí)時(shí)顯示運(yùn)行狀態(tài)、曲線及故障信息。

四、 技術(shù)特點(diǎn)

• 高效制冷系統(tǒng)：采用復(fù)疊式或雙級(jí)壓縮機(jī)制冷技術(shù)，可獲得-65℃甚至更低的低溫。

• 優(yōu)質(zhì)保溫材料：高強(qiáng)度聚氨酯發(fā)泡保溫層，確保箱體外部低溫，節(jié)能高效。

• 耐腐蝕設(shè)計(jì)：內(nèi)膽通常采用不銹鋼材質(zhì)，耐高低溫、耐腐蝕，使用壽命長(zhǎng)。

• 控制器：采用高精度程序控制器，數(shù)據(jù)記錄功能完善，支持USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出。

五、 技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：高溫區(qū)：+60℃ ~ +200℃；低溫區(qū)：-10℃ ~ -65℃

• 轉(zhuǎn)換時(shí)間：<10秒（兩箱式移動(dòng)）、<5分鐘（三箱式風(fēng)門切換）

• 溫度恢復(fù)時(shí)間：<5分鐘內(nèi)恢復(fù)至設(shè)定溫度

• 溫度波動(dòng)度：±0.5℃

• 溫度偏差：±2.0℃

• 內(nèi)箱尺寸：根據(jù)客戶需求定制（如 40cm * 35cm * 35cm）

六、 應(yīng)用場(chǎng)景與領(lǐng)域

冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于需要驗(yàn)證產(chǎn)品耐溫極限和可靠性的行業(yè)：

• 電子電工：IC芯片、半導(dǎo)體、PCB電路板、電子元器件、汽車電子、電源模塊等。

• 航空航天：機(jī)載設(shè)備、衛(wèi)星部件、導(dǎo)航系統(tǒng)等在高速升降過程中面臨的溫度環(huán)境。

• 汽車工業(yè)：發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元、傳感器、連接器、新材料等在寒冷與炎熱地帶的適應(yīng)性。

• 金屬材料：檢驗(yàn)各種金屬、合金材料在溫度劇變下的疲勞與斷裂特性。

• 科研機(jī)構(gòu)與質(zhì)檢單位：作為新產(chǎn)品研發(fā)、材料研究、質(zhì)量認(rèn)證與仲裁檢驗(yàn)的必要設(shè)備。