線性快速溫變箱 電子元器件循環(huán)測試設備

產(chǎn)品概述
線性快速溫變箱是一種環(huán)境可靠性測試設備，專門用于模擬快速變化的溫度環(huán)境。它核心特點在于其線性的、可控的溫變速率，能夠精確復現(xiàn)產(chǎn)品在運輸、存儲及使用過程中所面臨的嚴酷溫度條件，是考核電子元器件、PCB板、模塊組件等產(chǎn)品耐溫性能和可靠性的關鍵設備。

設備亮點與優(yōu)勢

• 真實模擬應力：與普通溫箱相比，它能施加更接近真實環(huán)境的溫度應力，更易激發(fā)潛在缺陷。

• 高測試效率：極快的升降溫速度大幅縮短測試周期，加速產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量驗證進程。

• 控制精度：采用線性控溫技術，避免過沖與波動，確保測試條件的準確性與重復性。

• 高可靠性設計：核心部件如壓縮機、控制器均選用國際品牌，保障設備長期穩(wěn)定運行。

• 智能便捷：大尺寸觸摸屏，支持程序編輯、遠程監(jiān)控與數(shù)據(jù)導出，操作簡單，維護方便。

線性快速溫變箱 電子元器件循環(huán)測試設備

工作原理
設備通過一套精密的制冷系統(tǒng)（通常為復疊式制冷）和加熱系統(tǒng)，對箱內(nèi)空氣進行強制調(diào)節(jié)。在控制器（如PLC）的精確指令下，系統(tǒng)根據(jù)預設的“線性溫變率"（如每分鐘5°C至15°C）進行計算與控制，動態(tài)平衡制冷與加熱的功率輸出，從而實現(xiàn)溫度勻速、精準地上升或下降，再現(xiàn)預設的溫度變化曲線。

主要用途
主要用于發(fā)現(xiàn)電子元器件因熱脹冷縮引起的各種失效模式，包括：

• 材料開裂、焊點疲勞斷裂

• 接觸不良、間歇性導通

• 封裝密封性失效

• 性能參數(shù)漂移

應用領域

• 汽車電子：發(fā)動機控制器、車載傳感器、電池管理系統(tǒng)BMS。

• 航空航天：機載計算機、導航與通信模塊。

• 消費電子：智能手機、穿戴設備的核心主板與芯片。

• 半導體與IC：芯片、晶圓的封裝測試與可靠性驗證。

技術參數(shù)

• 溫度范圍：-70°C 至 +150°C（或 -40°C 至 +150°C）

• 線性溫變速率：5°C/min ~ 15°C/min（可按需定制更高規(guī)格）

• 溫度波動度：≤±0.5°C

• 溫度均勻度：≤±2.0°C

• 內(nèi)箱容積：標準80L~1000L（可定制）

• 控制器：彩色觸摸屏，多段程序編輯，USB數(shù)據(jù)存儲

• 制冷方式：機械式復疊制冷/液氮輔助（超高速）

• 外殼材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板，表面噴塑處理

滿足標準
本設備嚴格遵循以下國家及國際標準設計制造：

• GB/T 2423.22（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化）

• IEC 60068-2-14（基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-14部分：試驗N：溫度變化）

• GJB 150.5A（實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗）

• MIL-STD-202F（電子及電氣元件試驗方法）