
產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
產(chǎn)品型號:TSD-100F-2P
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2025-10-11
訪 問 量:180
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本設(shè)備是專為評估電子元器件,尤其是芯片,在高低溫快速交替環(huán)境下的耐受性和可靠性而設(shè)計的精密測試儀器。它通過模擬瞬間驟變的環(huán)境溫度條件,在極短時間內(nèi)完成測試樣品在兩個獨立溫區(qū)(高溫區(qū)和低溫區(qū))之間的轉(zhuǎn)換,從而對芯片材料、結(jié)構(gòu)及電性能進(jìn)行嚴(yán)苛的加速應(yīng)力篩選。
該設(shè)備的核心用途是進(jìn)行可靠性測試與失效分析。它主要用于發(fā)現(xiàn)芯片因不同材料熱膨脹系數(shù)不匹配而導(dǎo)致的焊接疲勞、芯片開裂、接觸不良、參數(shù)漂移等潛在缺陷。是剔除早期失效產(chǎn)品,提升批次質(zhì)量與服役壽命的關(guān)鍵工序。


溫度范圍:-65℃ ~ +150℃(可依需求擴展,如-80℃ ~ +200℃)
轉(zhuǎn)換時間:<10秒(試樣從高溫區(qū)到低溫區(qū),或反之的切換時間,滿足嚴(yán)苛測試標(biāo)準(zhǔn))
溫度恢復(fù)時間:<5分鐘(在轉(zhuǎn)換完成后,工作區(qū)內(nèi)溫度恢復(fù)到設(shè)定值所需時間)
預(yù)熱區(qū)溫度:+60℃ ~ +200℃
預(yù)冷區(qū)溫度:-10℃ ~ -80℃
控制精度:±0.5℃
內(nèi)部結(jié)構(gòu):通常采用三箱式(高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū))或兩箱式(吊籃式)設(shè)計
數(shù)據(jù)記錄:配備USB接口,可實時記錄并導(dǎo)出溫度-時間曲線
采用高穩(wěn)定性的三箱式布局(預(yù)熱槽、預(yù)冷槽、測試槽)。測試過程中,試樣靜止于測試區(qū),通過氣動驅(qū)動風(fēng)門切換,將高溫或低溫氣流快速引入測試區(qū),實現(xiàn)對試樣的沖擊。這種設(shè)計避免了機械移動帶來的振動應(yīng)力,特別適用于精密芯片的測試。內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼,保溫層為高強度聚氨酯泡沫,確保高效隔熱與結(jié)構(gòu)耐久。
極速沖擊:小于10秒的快速溫度轉(zhuǎn)換能力,能迅速施加巨大熱應(yīng)力。
高精度控制:采用進(jìn)口PID智能溫控儀與高靈敏度傳感器,確保溫度波動小,測試重復(fù)性好。
用戶友好:大型彩色觸摸屏,編程簡潔,可存儲上百組測試程序。
安全可靠:具備完善的超溫保護(hù)、漏電保護(hù)、風(fēng)機過載保護(hù)及故障自診斷功能。
節(jié)能環(huán)保:采用環(huán)保制冷劑,并結(jié)合優(yōu)化的制冷系統(tǒng)設(shè)計,運行能效比高。




在芯片的研發(fā)、生產(chǎn)及品控全周期中,該設(shè)備是檢測環(huán)節(jié):
研發(fā)階段:驗證新芯片設(shè)計、封裝材料與工藝的可靠性極限。
生產(chǎn)階段:作為過程質(zhì)量控制與出廠篩選,剔除有潛在缺陷的次品。
質(zhì)量認(rèn)證:用于進(jìn)行各類行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(如JESD22-A104、MIL-STD-883)的符合性測試。
失效分析:復(fù)現(xiàn)現(xiàn)場失效模式,為改進(jìn)設(shè)計提供數(shù)據(jù)支持。
其核心技術(shù)在于實現(xiàn)快速的熱能切換與精確的溫度控制。通過高效的加熱器、復(fù)疊式制冷系統(tǒng)和優(yōu)化的氣流設(shè)計,實現(xiàn)溫度的快速升降。獨特的測試區(qū)風(fēng)道結(jié)構(gòu),能保證試樣周圍溫度場的均勻性與沖擊效率??刂破髂芫_管理預(yù)熱、預(yù)冷、沖擊、停留等各個階段,實現(xiàn)全自動測試循環(huán)。
除核心的半導(dǎo)體集成電路、CPU、GPU、存儲器芯片外,該設(shè)備還廣泛應(yīng)用于:
汽車電子:發(fā)動機控制單元(ECU)、傳感器、車載信息娛樂系統(tǒng)。
航空航天:星載/機載電子設(shè)備、導(dǎo)航與控制模塊。
通信設(shè)備:5G基站芯片、光模塊、路由器核心元件。
消費電子:智能手機主芯片、可穿戴設(shè)備核心模塊。

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