電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱可靠性高

產(chǎn)品詳情

電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱是一款為模擬溫度變化環(huán)境而設(shè)計的高可靠性測試設(shè)備。它主要用于考核電子元器件（如芯片、電阻、電容、PCB板、IC、連接器等）在瞬間經(jīng)歷高低溫轉(zhuǎn)換時的耐受能力，從而發(fā)現(xiàn)因材料熱膨脹系數(shù)不匹配、焊接疲勞等引起的潛在缺陷。該設(shè)備通常采用高低溫蓄熱式三箱式（預(yù)冷區(qū)、預(yù)熱區(qū)、測試區(qū)）或兩箱式（吊籃式）結(jié)構(gòu)，確保溫度轉(zhuǎn)換迅速、測試區(qū)域溫度穩(wěn)定。

核心用途與應(yīng)用場景

其核心用途是執(zhí)行冷熱沖擊測試（或稱溫度循環(huán)測試），這是一種加速應(yīng)力測試方法，能夠在短時間內(nèi)揭示元器件在數(shù)年使用中可能因溫度反復(fù)變化而出現(xiàn)的故障。

電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱可靠性高

典型應(yīng)用場景包括：

• 研發(fā)階段： 驗證新產(chǎn)品的設(shè)計可靠性與材料選擇合理性。

• 質(zhì)量抽檢（IQC）： 對進(jìn)貨的元器件進(jìn)行可靠性篩查，確保來料質(zhì)量。

• 失效分析（FA）： 對失效品進(jìn)行復(fù)測，分析其失效模式與溫度沖擊的關(guān)聯(lián)。

• 生產(chǎn)過程中： 對關(guān)鍵批次產(chǎn)品進(jìn)行100%篩選，剔除早期故障產(chǎn)品，提高出廠產(chǎn)品質(zhì)量。

技術(shù)特點與優(yōu)勢

1. 高可靠性設(shè)計： 采用高品質(zhì)壓縮機(jī)、循環(huán)風(fēng)機(jī)、智能控制器及關(guān)鍵電氣元件，確保設(shè)備能夠長時間連續(xù)穩(wěn)定運行，故障率極低，保障測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與連續(xù)性。

2. 極速溫變轉(zhuǎn)換： 轉(zhuǎn)換時間通常小于10秒，能夠迅速在高溫（如+150°C）和低溫（如-65°C）之間切換，提供嚴(yán)苛且真實的溫度沖擊環(huán)境。

3. 精準(zhǔn)溫控： 測試區(qū)溫度波動度小，均勻性高，確保所有樣品在一致的條件下接受測試，結(jié)果可比性強(qiáng)。

4. 人性化操作： 配備大尺寸觸摸屏和可編程控制器（PLC），用戶可輕松設(shè)定復(fù)雜的溫度曲線、循環(huán)次數(shù)及駐留時間，并具備數(shù)據(jù)存儲和USB導(dǎo)出功能。

5. ** robust結(jié)構(gòu)與安全防護(hù)：** 內(nèi)膽采用SUS304不銹鋼，耐腐蝕性強(qiáng)；具備多重安全保護(hù)（如超溫保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、漏電保護(hù)等），確保人機(jī)安全。

主要技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍： 高溫區(qū)：+60°C ~ +200°C；低溫區(qū)：-10°C ~ -65°C

• 轉(zhuǎn)換時間： ≤10秒（樣品從高溫區(qū)到低溫區(qū)或反之）

• 溫度恢復(fù)時間： ≤5分鐘內(nèi)恢復(fù)至設(shè)定溫度

• 內(nèi)箱尺寸： 可根據(jù)需求定制（如 40*40*40cm）

• 控制器： 7英寸彩色觸摸屏，程序容量100組

• 冷卻方式： 機(jī)械式壓縮機(jī)制冷，風(fēng)冷或水冷

應(yīng)用領(lǐng)域

該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、汽車電子、航空航天、通信設(shè)備、消費類電子等所有對電子元器件可靠性有要求的行業(yè)，是提升產(chǎn)品質(zhì)量、縮短研發(fā)周期、贏得市場信任的關(guān)鍵工具。