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紫外老化試驗(yàn)箱

箱式紫外線老化試驗(yàn)箱塔式紫外線老化試驗(yàn)箱紫外老化箱（帶溫濕功能）

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紫外線老化試驗(yàn)箱電子芯片

紫外線老化試驗(yàn)箱電子芯片
助力企業(yè)評(píng)估電子芯片在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性與使用壽命，為芯片材料選型、工藝優(yōu)化和質(zhì)量管控提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。

產(chǎn)品型號(hào)：HT-UV3
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-07-02
訪問(wèn) 量：268

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聯(lián)系電話：0769-81085066

詳細(xì)介紹

生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

紫外線老化試驗(yàn)箱電子芯片

產(chǎn)品用途

專為集成電路、半導(dǎo)體芯片等電子芯片研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量檢測(cè)設(shè)計(jì)，旨在模擬自然環(huán)境中紫外線、溫度、濕度等因素對(duì)芯片封裝材料、基板、鍵合線等部件的老化作用。通過(guò)精準(zhǔn)調(diào)控紫外線輻射強(qiáng)度、溫濕度、光照時(shí)間等參數(shù)，加速芯片材料老化進(jìn)程，可快速檢測(cè)出芯片材料的開(kāi)裂、分層、絕緣性能下降等問(wèn)題，助力企業(yè)評(píng)估電子芯片在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性與使用壽命，為芯片材料選型、工藝優(yōu)化和質(zhì)量管控提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。

紫外線老化試驗(yàn)箱電子芯片

紫外線老化試驗(yàn)箱電子芯片

溫度控制系統(tǒng)

采用高精度 PID 智能控溫算法，搭配鉑電阻溫度傳感器，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)箱內(nèi)溫度變化。當(dāng)溫度偏離設(shè)定值時(shí)，系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)節(jié)加熱絲功率，結(jié)合風(fēng)冷或水冷輔助散熱，將溫度精確控制在 ±0.5℃范圍內(nèi)。超溫保護(hù)裝置在溫度異常時(shí)立即切斷電源并報(bào)警，保障設(shè)備和芯片樣品安全。

制冷系統(tǒng)

選用進(jìn)口高效壓縮機(jī)，配合環(huán)保制冷劑，制冷效率高、能耗低。采用風(fēng)冷式冷凝器和翅片式蒸發(fā)器，結(jié)合智能節(jié)流裝置，可快速降低箱內(nèi)溫度。通過(guò) PID 調(diào)節(jié)控制制冷量，確保溫度穩(wěn)定，即使在高溫高濕環(huán)境下也能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)制冷。

紫外線老化試驗(yàn)箱電子芯片

加濕系統(tǒng)

采用超聲波加濕技術(shù)，將水霧化成微小顆粒，通過(guò)風(fēng)機(jī)送入試驗(yàn)箱內(nèi)。高精度濕度傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)箱內(nèi)濕度，PID 控制系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定值自動(dòng)調(diào)節(jié)加濕量，可實(shí)現(xiàn)濕度的快速穩(wěn)定調(diào)節(jié)，濕度控制精度達(dá) ±2% R?H。

工作原理

以熒光紫外線燈管為光源，模擬太陽(yáng)光中的紫外線輻射，引發(fā)芯片材料分子鏈斷裂、氧化等光化學(xué)反應(yīng)。溫度控制系統(tǒng)模擬高溫、低溫環(huán)境，加速材料老化；制冷系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)低溫環(huán)境模擬；加濕系統(tǒng)營(yíng)造高濕環(huán)境。冷凝系統(tǒng)模擬露水侵蝕，多種環(huán)境因素協(xié)同作用，在短時(shí)間內(nèi)模擬電子芯片在自然環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間的老化過(guò)程，以便快速評(píng)估其性能變化。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

精準(zhǔn)測(cè)試：多系統(tǒng)協(xié)同控制，精準(zhǔn)模擬復(fù)雜環(huán)境，測(cè)試結(jié)果真實(shí)可靠。

高效加速：加速老化過(guò)程，大幅縮短芯片研發(fā)和質(zhì)檢周期。

智能操控：配備觸摸屏，支持多參數(shù)編程和自定義試驗(yàn)循環(huán)。

穩(wěn)定耐用：采用優(yōu)質(zhì)核心部件，確保設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。

安全防護(hù)：具備漏電、超溫、缺水等多重保護(hù)機(jī)制。

靈活定制：可根據(jù)芯片類型定制特殊功能，滿足個(gè)性化測(cè)試需求。

技術(shù)參數(shù)

濕度范圍：20%～95% R?H，精準(zhǔn)模擬各類濕度環(huán)境。

紫外線波長(zhǎng)：UV-A（315 - 400nm）、UV-B（280 - 315nm），可靈活切換。

輻照強(qiáng)度：0.1 - 2.0W/㎡連續(xù)可調(diào)，適配不同測(cè)試場(chǎng)景。

黑板溫度：40℃～80℃，精確控制樣品表面溫度。

試驗(yàn)時(shí)間：0 - 9999h 自由設(shè)定，支持長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試。

濕度均勻度：±2%，溫度均勻度：±1℃，確保箱內(nèi)環(huán)境穩(wěn)定。

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紫外線老化試驗(yàn)箱電子芯片助力企業(yè)評(píng)估電子芯片在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性與使用壽命，為芯片材料選型、工藝優(yōu)化和質(zhì)量管控提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。

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