聚焦電子廣皓天儀器推出 “微小型氙燈試驗箱”適配芯片封裝件老化測試

更新時間：2025-08-25

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近日，廣皓天儀器在電子測試設(shè)備領(lǐng)域再出新動作，專為芯片封裝件老化測試推出 “微小型氙燈試驗箱"。該設(shè)備以緊湊結(jié)構(gòu)與精準(zhǔn)控光性能，微小電子元件專用老化測試設(shè)備的市場空白，為芯片封裝件的可靠性檢測提供了全新解決方案。

聚焦電子廣皓天儀器推出 “微小型氙燈試驗箱

隨著芯片向高密度、微型化發(fā)展，封裝件的耐候性對整機穩(wěn)定性的影響愈發(fā)關(guān)鍵。傳統(tǒng)氙燈試驗箱因腔體過大、光照聚焦精度不足，難以適配尺寸僅幾毫米的芯片封裝件 —— 測試時易出現(xiàn)局部光照不均，導(dǎo)致引腳氧化、膠體開裂等細(xì)微缺陷無法被精準(zhǔn)捕捉。而廣皓天此次推出的微小型設(shè)備，針對這一痛點實現(xiàn)了針對性突破。

這款試驗箱將測試腔體體積壓縮至傳統(tǒng)設(shè)備的 1/5，采用定制化微型氙燈模組，配合高精度光學(xué)聚光系統(tǒng)，可將光照能量精準(zhǔn)聚焦于 10mm×10mm 的測試區(qū)域，光照均勻度達(dá) 97% 以上。同時延續(xù)了廣皓天核心的光譜動態(tài)修正技術(shù)，能模擬芯片在終端應(yīng)用中可能遭遇的辦公室照明、戶外陽光等 6 類典型光源環(huán)境，光譜匹配誤差控制在 ±3% 以內(nèi)。

聚焦電子廣皓天儀器推出 “微小型氙燈試驗箱

“芯片封裝件的老化測試一直面臨‘大設(shè)備測小樣品’的尷尬，這款設(shè)備讓我們能精準(zhǔn)觀察封裝膠體在光照下的黃變速度，以及金線鍵合處的性能變化。" 某半導(dǎo)體封裝企業(yè)測試工程師表示，該設(shè)備的溫度 - 光照協(xié)同控制功能，可復(fù)現(xiàn)汽車電子等場景中 - 40℃至 85℃的溫度波動與光照疊加環(huán)境，測試效率較傳統(tǒng)方法提升 50%。

聚焦電子廣皓天儀器推出 “微小型氙燈試驗箱

據(jù)悉，該設(shè)備已通過國內(nèi)多家半導(dǎo)體企業(yè)的驗證測試，目前已批量投產(chǎn)。廣皓天技術(shù)負(fù)責(zé)人表示，后續(xù)將針對 5G 芯片、車載芯片等不同應(yīng)用場景，推出具備多工位同步測試、數(shù)據(jù)自動分析功能的升級版本，持續(xù)為電子元器件的可靠性測試提供更精準(zhǔn)的設(shè)備支撐。

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